ゼロ調整で多コーナ歩留まり解析を回す:学習済み事前分布で Tuning Barrier を越える
25以上の Process-Voltage-Temperature コーナをまたいで回路歩留まりを評価する Yield Multi-Corner Analysis は、各コーナで大量の SPICE シミュレーションが必要になり、計算量が組合せ的に膨らみます。 提案手法は、個別回路ごとのハイパーパラメータ調整をやめ、TabPFN の学習済み事前分布をそのまま使う in-context learning と、自動特徴選択を組み合わせて、ゼロ調整で多コーナ解析を成立させます。 4×2 から 32×2 の OpenYield SRAM で、平均 MRE 0.11% から 1.10% の精度を保ちつつ、総検証コストを 10 倍超削減し、難しいコーナでも cross-corner transfer が効くことを示しました。