BayPrAnoMetaは、ラベル付き欠陥データが極端に少ない工業用画像の異常検知に向けた新しい手法である。Proto-MAMLをベイズ的に拡張し、タスク固有の確率的モデルと事後予測尤度による適応を導入した。MVTec ADベンチマークにおいて、従来手法と比較し、少数のサンプルのみを用いた異常検知で一貫して高いAUROCを達成している。
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